XMTD-8高頻介質損耗測試儀

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產品名稱: XMTD-8高頻介質損耗測試儀

產品型號: XMTD-8

產品展商: ghitest

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簡單介紹

產品簡介：介質損耗和介電常數是電瓷、裝置瓷、電容器等陶瓷，還有復合材料等的一項重要的物理性質，通過測定介質損耗角正切tanδ及介電常數（ε），可進一步了解影響介質損耗和介電常數的因素，為提高材料的性能提供依據；儀器的基本原理是采用高頻諧振法，并提供了，**、多用途、多量程的阻抗測試。

XMTD-8高頻介質損耗測試儀 的詳細介紹

產品簡介：
介質損耗和介電常數是**電瓷、裝置瓷、電容器等陶瓷，還有復合材料等的一項重要的物理性質，通過測定介質損耗角正切tanδ及介電常數（ε），可進一步了解影響介質損耗和介電常數的**因素，為提高材料的性能提供依據；儀器的基本原理是采用高頻諧振法，并提供了，**、多用途、多量程的阻抗測試。它以單片計算機作為儀器的控制，測量核心采用了頻率數字鎖定，標準頻率測試點自動設定，諧振點自動搜索，Q值量程自動轉換，數值顯示等新，改進了調諧回路，使得調諧測試回路的殘余電感減至低，并保留了原Q表中自動穩幅等，使得新儀器在使用時*為方便，測量值*為。儀器能在較高的測試頻率條件下，測量高頻電感或諧振回路的Q值，電感器的電感量和分布電容量，電容器的電容量和損耗角正切值，電工材料的高頻介質損耗，高頻回路**并聯及串聯電阻，傳輸線的特性阻抗等。該儀器用于科研、學校、工廠等單位對*機非金屬新材料性能的應用研究。儀器遵從標準：GB/T5594.4-1985。
指標：
1．Q值測量
a．Q值測量范圍：5～999
b．Q值量程分檔：30、100、300、999、自動換檔
c．標稱誤差
頻率范圍：25kHz～10MHz
固有誤差：≤5%±滿度值的2%
工作誤差：≤7%±滿度值的2%
頻率范圍：10MHz～50MHz
固有誤差：≤7%±滿度值的2%
工作誤差：≤10%±滿度值的2%
2．電感測量
測量范圍：0.1μH～1H
分    檔：分七個量程
0.1～1μH，1～10μH，10～100μH， 0.1～lmH，1～10mH，10～100mH，100 mH～1H
3．電容測量
測量范圍：1～460pF(460pF以上的電容測量見使用規則)
電容量調節范圍
主調電容器：40～500pF
準確度：150pF以下±1.5pF；150pF以上±1%
微調電容量：－3pF～0～＋3pF
準確度：±0.2pF
4．振蕩頻率
振蕩頻率范圍：25kHz～50MHz
頻率分檔： 25～74kHz，74～213kHz，213-700kHz，700kHz～1.95MHz，1.95MHz～5.2MHz，5.2MHz～17MHz，17～50MHz
頻率誤差：2×10-4±1個字
5．Q合格指示預置功能，預置范圍：5～999
6．儀器正常工作條件
環境溫度：0℃～+40℃
相對濕度：<80%
電    源：220V±22V，50Hz±2.5Hz
7．試樣尺寸圓片形：厚度2+0.5mm，直徑為Φ30~40mm（ε<12時），Φ25~35mm（ε=12~30時），Φ15~20mm（ε>30時）
8．其他
消耗功率：約25W
凈    重：約7kg

外型尺寸：（l×b×h）mm：380×132×280。

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